ASIC设计技术从单一的功能仿真发展到功能仿真、逻辑综合、时序分析和自动测试生成等四项关键技术。ASIC设计过程中测试矢量的产生与验证步骤,包括激励编写规则,波形检查,测试矢量的获得以及测试矢量的验证.ASIC设计的早期,验证芯片设计功能,支持硬件、软件及整个系统的并行开发,并能检查硬件和软件兼容性,同时还可在目标系统中同时测试系统中运行。
ASIC测试与验证问题
1、测量可重复性和可复制性(GR&R)
2、电气测试可信度(ElectricalTestConfidence)
3、电气测试的限值空间(Guardband)
4、电气测试参数CPK
5、电气测试良品率模型(testyield)
6、晶圆测试和老化(WaferlevelTestandburn-in)
7、边界扫描(Boundary-Scan)测试/JTAG标准
8、自我测试电路(Built-inSelfTest)
设备名称 | 基本性能指标 |
示波器 Angilent MSO7104A | ●1 GHz带宽 ●4个模拟通道和16个数字通道 ●4 GSa/s采样率 ●标准8 Mpts MegaZoom III深存储器 ●256级灰度的12.1英寸XGA显示屏 ●每秒100000次波形更新速率 |
示波器 Angilent DPO4032 | ●350MHz带宽 ●2通道 ●在所有通道上提供高达2.5Ga/s的采样速率 ●在所有通道上提供10 M样点记录长度 ●I2C,SPI,CAN串行总线触发和分析 |
频谱分析仪 Adwant AT6030D | ●频率范围：9KHz～3GHz ●分辨率:1Hz ●范围(Span)准确度:9KHz～3GMHz ●幅度范围: 20dBm～-105dBm ●频率平坦度:±1.dB ●互调失真:-70dBc(-30dB input) ●相位噪声(OFFSET):-90dBc/Hz(10KHz偏移基准) |
逻辑分析仪 Acute TL2236 | ●36通道 ●4GHz定时分析 ●200MHz状态分析 ●72M存储长度 ●毛刺触发、UART，I2C，I2S，SPI H／W触发、4组状态触发 ●时间标记、实时频率显示、实时状态显示 |
FPGA开发板 Xilinx Spartan3A 1800 DSP | ●180万门 ●可编程LVDS时钟产生器 ●板载27 MHz LVTTL 振荡器 ●128 MB DDR2 SDRAM ●128 Mb 并行Flash ●10/100/1000 Ethernet PHY ●64 Mb SPI 结构Flash ●JTAG 、RS232 口 |
FPGA开发板 Xilinx XUP-V5-LX110T Board | ●两个XCF32P 平台的Flash PROMs (每个32 Mbyte) ●Xilinx Virtex-5 XC5VLX110T FPGA ●Xilinx SystemACE CF 控制器 ●64-bit 宽度256Mbyte DDR2 ●板载32-bit ZBT 同步 SRAM ●100/100/1000 Ethernet PHY，支持 MII, GMII, RGMII, 和SGMII接口 ●USB接口 ●可编程系统时钟产生器 ●AC97 音频输入、输出、耳机、麦克风接口、SPDIF ●视频输入和输出(DVI/VGA)接口 |